一、查看下芯片的正常功能

      晶圓測試是屬于芯片生產(chǎn)中最重要的一項(xiàng)測試，通過這樣的測試，就可以直接出一個(gè)正常芯片的工作環(huán)境，尤其是還可以反映出芯片的功能如何，以及芯片是否能正常工作，這些都是可以經(jīng)過測試后得出的結(jié)論，包括需要使用哪些儀器呢，也是需要評估的。

      二、查看下芯片是否有故障

      在進(jìn)行晶圓測試的時(shí)候，不僅僅是可以從中了解到芯片的功能有哪些，而且經(jīng)過測試后，還能詳細(xì)的了解到芯片使用中是否會(huì)出現(xiàn)一些故障，包括在出現(xiàn)故障之后是不是可以進(jìn)行修復(fù)，這些都會(huì)直接影響到芯片的使用效果，這一測試主要內(nèi)容，就是可以將信號輸入，之后對芯片做出相應(yīng)的抓取，從而能了解下芯片究竟如何，也能提前找到解決芯片故障的方法。

      晶圓測試是屬于現(xiàn)在人們會(huì)了解的一項(xiàng)測試，尤其是針對芯片生產(chǎn)廠家而言，如果自己所生產(chǎn)的產(chǎn)品沒有經(jīng)過測試就投入使用的話，反而很容易導(dǎo)致芯片產(chǎn)品出現(xiàn)一些問題，所以說要注意到這一點(diǎn)，只要經(jīng)過測試后產(chǎn)品合格，就可以確認(rèn)芯片正常應(yīng)用。

      本公司主營項(xiàng)目：芯片測試,圓片測試,晶圓測試,CP測試,4568寸片測試,wafertest測試。