一、芯片功能性測試

      說到當前的芯片測試，其中最為基礎(chǔ)的就是功能性測試，簡單的來說，就是測試一下芯片的參數(shù)，還有芯片的指標，包括芯片的功能如何，這些都是屬于其中基本的測試內(nèi)容，只有經(jīng)過這項測試后，才能了解下芯片是否能滿足功能需要，是否能成功的上市銷售。

      二、芯片性能性測試

      除了要做好功能方面的測試外，還有芯片測試中，性能測試也是很重要的。因為只有在確保了懸念片的性能后，在之后使用的時候才不需要去擔心任何的問題，也能進一步發(fā)揮芯片的優(yōu)勢，因為芯片在加工生產(chǎn)的過程中，也是會出現(xiàn)一些缺陷，這些缺陷也是有大有小的，因此哪些缺陷是可以接受的，哪些是需要維修的，這就需要通過性能測試來完成了。

      在芯片測試的過程中，還是需要關(guān)注下這樣兩個測試內(nèi)容，尤其是在進行測試的時候，更是要去考慮下具體的測試要求，要按照正確的方式完成對芯片測試，只要確認芯片合格后，就可以成功的推出市場銷售，因為測試時間比較長，所以還需要耐心的等待，力求測試的精準性。

      本公司主營項目：芯片測試,圓片測試,晶圓測試,CP測試,4568寸片測試,wafertest測試。