一點(diǎn)、做好測(cè)試中的檢查

      測(cè)試人員在進(jìn)行圓片測(cè)試期間，還是需要先做好口罩的佩戴，從而保證環(huán)境的清潔度，另外如果測(cè)試的過(guò)程中，要進(jìn)行轉(zhuǎn)機(jī)的話，則是需要注意檢查下針尖是否已經(jīng)磨平，如果說(shuō)針尖比較尖銳的話，反而很容易導(dǎo)致劃破圓片，這在測(cè)試中也是很明顯的錯(cuò)誤，如果發(fā)現(xiàn)針尖沒(méi)有磨平的話，則是要注意停止測(cè)試，在更換合適的針之后再進(jìn)行測(cè)試。

      二點(diǎn)、注意不要用手觸碰

      像是在進(jìn)行其他測(cè)試工作的時(shí)候，操作人員可能是需要直接接觸物品的，但是在圓片測(cè)試的過(guò)程中，則是要注意不能直接用手去觸碰，尤其是用手觸碰的話，反而很容易導(dǎo)致影響圓片的性能，會(huì)導(dǎo)致出現(xiàn)損壞的情況，甚至還會(huì)留下手指印，所以這一點(diǎn)也是需要注意到的。

      因?yàn)閳A片也是會(huì)有不同的型號(hào)，所以對(duì)每一個(gè)細(xì)節(jié)都是需要去做好把握的，而且圓片的測(cè)試數(shù)據(jù)還是很關(guān)鍵的，為了避免測(cè)試時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤，因此操作人員在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候還應(yīng)該注意到這幾點(diǎn)，進(jìn)而能在完成測(cè)試后獲得正確的數(shù)據(jù)結(jié)果。

      本公司主營(yíng)項(xiàng)目：芯片測(cè)試,圓片測(cè)試,晶圓測(cè)試,CP測(cè)試,4568寸片測(cè)試,wafertest測(cè)試。