一、檢查下生產(chǎn)產(chǎn)品是否達(dá)標(biāo)

      晶圓測(cè)試是什么，主要是可以針對(duì)晶圓的電氣特性來(lái)完成測(cè)試的，可以針對(duì)晶圓上的每一個(gè)顆粒完成測(cè)試，進(jìn)而能通過(guò)測(cè)試來(lái)了解和判斷下產(chǎn)品是否合格，如果說(shuō)沒(méi)有達(dá)標(biāo)的話(huà)，那么這一產(chǎn)品是無(wú)法使用的，也是會(huì)被淘汰的，畢竟進(jìn)入下一步驟繼續(xù)生產(chǎn)，反而會(huì)增加不必要的費(fèi)用，因此通過(guò)測(cè)試后就能完成對(duì)產(chǎn)品的檢測(cè)。

      二、方便發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的問(wèn)題與缺陷

      因?yàn)楝F(xiàn)在各大行業(yè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量要求比較高，如果將一些有缺陷的產(chǎn)品推出市場(chǎng)的話(huà)，反而會(huì)影響到廠家之后的發(fā)展，所以說(shuō)通過(guò)晶圓測(cè)試，就可以方便廠家了解下產(chǎn)品存在什么樣的缺陷，具備怎樣的問(wèn)題，并且能及時(shí)的對(duì)這些缺陷做好了解與掌握，之后才能做好對(duì)問(wèn)題的解決。

      晶圓測(cè)試是屬于眾多方式中的一種，也只有通過(guò)這一測(cè)試后才能完成對(duì)產(chǎn)品的生產(chǎn)與檢測(cè)，因此當(dāng)前生產(chǎn)廠家想要推出高品質(zhì)的產(chǎn)品，除了要注意按照正確的工藝完成生產(chǎn)外，還有做好測(cè)試也很重要，尤其是要注意按照正確的規(guī)范完成測(cè)試操作，避免影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

      本公司主營(yíng)項(xiàng)目：芯片測(cè)試,圓片測(cè)試,晶圓測(cè)試,CP測(cè)試,4568寸片測(cè)試,wafertest測(cè)試。