1、多次掃描成像

      wafertest測(cè)試是從影像資料上由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)或者人工輔助判斷工業(yè)設(shè)備是否出現(xiàn)了部分損壞，它們會(huì)直接決定檢測(cè)的結(jié)果，現(xiàn)在市面上的一些掃描檢測(cè)設(shè)備一般是機(jī)器與人工輔助相結(jié)合，這樣可以最大限度的保障準(zhǔn)確率，也極大的節(jié)約了人工的成本，提高了檢測(cè)的效率，適合各種高精密設(shè)備和批量設(shè)備檢測(cè)。

      2、設(shè)備是否校準(zhǔn)

      wafertest測(cè)試設(shè)備雖然作為一種高科技儀器，但長(zhǎng)期使用之后仍需要對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)，它具有自我校準(zhǔn)的功能，一般在使用過程中可以動(dòng)態(tài)的自我校準(zhǔn)，然而使用一段時(shí)間后仍需要人工進(jìn)行調(diào)整和干擾。以目前的市場(chǎng)情況來看，絕大多數(shù)同類設(shè)備均是如此，鑒于它特殊的工作模式，預(yù)計(jì)未來測(cè)試設(shè)備升級(jí)之后仍然不能完全實(shí)現(xiàn)智能運(yùn)行。

      所以wafertest測(cè)試設(shè)備并不是一種完全自動(dòng)化的設(shè)備儀器，與第三方的軟件或其他設(shè)備相結(jié)合之后更需要定期校準(zhǔn)其精度，這也是使其長(zhǎng)期保持穩(wěn)定工作的重要環(huán)節(jié)之一。建議校準(zhǔn)前與生產(chǎn)廠家售后團(tuán)隊(duì)進(jìn)行深度咨詢，必要時(shí)派原廠售后人員予以支持，切勿私自開機(jī)校驗(yàn)。

      本公司主營項(xiàng)目：芯片測(cè)試,圓片測(cè)試,晶圓測(cè)試,CP測(cè)試,4568寸片測(cè)試,wafertest測(cè)試。