CP測試的設(shè)備有芯片功能檢測設(shè)備、芯片晶圓內(nèi)存情況檢測的設(shè)備、芯片信號情況檢測的設(shè)備等，使用的檢測設(shè)備有所不同，不過測試的原理沒有區(qū)別。測試的范圍有所區(qū)別。除了要進(jìn)行芯片功能測試、芯片的電力情況測試、漏電等問題測試都是十分必要的。

      探針卡是CP測試設(shè)備的主要配件，該配件用于讓晶圓和探針更好的接觸，因此有操控芯片作用，通過該配件的操控，探針能準(zhǔn)確的檢測晶圓上的pad，了解晶圓信號功能，由于技術(shù)的升級，如今該設(shè)備一般是使用自動化技術(shù)，因此檢測信號等數(shù)據(jù)更為輕松。

      探針卡配件按照外觀以及功能也有很懂類別，有刀片式、微機(jī)電式等，不同類別的探針卡探針的布局也有所區(qū)別，人們需要按照使用需求進(jìn)行選擇。打造探針的材料也有區(qū)別，不同材料的使用效果相差并不小，通常使用鎢材料作為探針材料，這是由于鎢材料的性能更出色，不管是硬度、還是耐用性都有保障，而且穩(wěn)定性好，有利于提升檢測的效率，長時間檢測也不會出現(xiàn)質(zhì)量問題。
      本公司主營項(xiàng)目：芯片測試,圓片測試,晶圓測試,CP測試,4568寸片測試,wafertest測試。