如果是自動化設(shè)備，進行CP測試時，檢測人員使用自動化探針，只需把帶晶圓的產(chǎn)品放置操作臺，該設(shè)備就會自動進行晶圓情況的了解，輕松掌握晶圓方向等情況。自動化的機械設(shè)備就能讓晶圓進入測試的卡盤，卡盤有相應(yīng)的設(shè)置吸附晶圓，并且能讓晶圓的位置穩(wěn)固，卡盤設(shè)備有多個方向的移動配件，移動的情況準(zhǔn)確控制，能讓晶圓準(zhǔn)確準(zhǔn)移動至探針處，進行檢測。當(dāng)然，由于自動化設(shè)備的不同，檢測晶圓晶粒的效率也有所不同，而且卡盤很有必要，這是由于要檢測所有的晶粒就需要卡盤操控晶圓，方便探針進行檢測。

 

      對于晶圓的性能也有檢測設(shè)備，該設(shè)備通過計算機設(shè)置，能調(diào)整檢測的電力情況，電壓、電流等都能進行調(diào)整，從而了解晶圓的性能。該設(shè)備由系統(tǒng)的電子配件打造，有CPU配件、電力系統(tǒng)配件、存儲設(shè)備、電力設(shè)備等，通過這些高科技設(shè)備綜合運用，來有效了解晶圓的性能。

      CP測試設(shè)備效率更高、投入有效減少，檢測質(zhì)量有保障，使用更為便捷，因此得到了廣泛應(yīng)用！
      本公司主營項目：芯片測試,圓片測試,晶圓測試,CP測試,4568寸片測試,wafertest測試。