特性一、控制在一定的范圍內(nèi)測試

      企業(yè)在進行CP測試的過程中，使用的探針都是屬于懸臂針，所以說在進行操作的時候，因為針比較長，會直接處于一個懸空的狀態(tài)下，因此在信號的控制方面會存在一定的問題，這個時候在進行測試數(shù)據(jù)傳遞的時候就需要一定的范圍，因此要對測試的范圍進行一定的掌握。

      特性二、可以有選擇性的進行

      針對產(chǎn)品進行包裝的過程中，也可能會因為各大因素的影響導致芯片的質(zhì)量出現(xiàn)問題，有的時候更是會因為包裝的方式影響其中的世界效果，所以說通過CP測試，還可以有選擇性的去完成測試，這樣就可以了解到芯片產(chǎn)品是不是真的存在一些問題，能做好對產(chǎn)品品質(zhì)和性能方面的檢查，這樣才能確保芯片得到不錯的應用，滿足當前的使用需要。

      在進行芯片檢查的過程中，CP測試還是必不可少的，尤其是這樣的測試方法還因為擁有一定的特點，成為企業(yè)經(jīng)常會使用的一項技術，但是要注意一點，通過這一方法進行測試的時候，還應該注意其中方式，按照正確的方式來確保測試結果。
      本公司主營項目：芯片測試,圓片測試,晶圓測試,CP測試,4568寸片測試,wafertest測試。