1、減少芯片的出錯(cuò)

       任何芯片最初設(shè)計(jì)的時(shí)候，開(kāi)發(fā)人員就已經(jīng)考慮到了后期的測(cè)試問(wèn)題，所以為了能減少芯片的出國(guó)，也是為了能減少外來(lái)因素對(duì)芯片的影響，因此將4568寸片測(cè)試作為一個(gè)測(cè)試的因素，可以讓芯片測(cè)試更加的合格，這樣才能進(jìn)入下一個(gè)階段中，包括還可以節(jié)省了其中的測(cè)試時(shí)間，可以在短時(shí)間內(nèi)來(lái)完成具體的測(cè)試，不會(huì)浪費(fèi)任何的測(cè)試時(shí)間。

       2、芯片正式的進(jìn)入生產(chǎn)

       經(jīng)過(guò)了4568寸片測(cè)試，以及各種不同的測(cè)試后，才能確保芯片的合格，使得所有的芯片都可以進(jìn)入到量產(chǎn)的階段，這個(gè)時(shí)候需要做的事情就是要進(jìn)行監(jiān)督，從而能監(jiān)督其中的合格率，所以說(shuō)，這一測(cè)試成為芯片是否可以進(jìn)行量產(chǎn)的一個(gè)關(guān)鍵因素。

       在進(jìn)行芯片測(cè)試的時(shí)候，還是需要考慮多個(gè)方面，因?yàn)檫@會(huì)直接關(guān)系到芯片是不是可以更加的合格，所以說(shuō)，其中的4568寸片測(cè)試，也同樣是成為廠家可以選擇的一種測(cè)試方式，只有通過(guò)多方面的測(cè)試后，才能了解芯片是否可以正式的投入生產(chǎn)。