芯片測(cè)試的每一個(gè)步驟和環(huán)節(jié)都不容忽視
所屬類別:2021-05-06 閱讀:1882次
芯片測(cè)試的步驟是什么?如果我們不了解其科學(xué)的步驟,則很難制造出合格的芯片。這其中涉及到設(shè)計(jì)、測(cè)試、封裝、流媒體等多個(gè)環(huán)節(jié)。從成本計(jì)算的角度來(lái)看,芯片成本主要集中在磁帶上,可以占到40%左右,其他人工成本也會(huì)占到20%左右。剩下的是芯片封裝和測(cè)試。確切地說(shuō),測(cè)試的成本是很低的,僅占5%左右。

1芯片測(cè)試雖然是便宜的一步,但也是關(guān)鍵的一步。
現(xiàn)在市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)激烈,很多企業(yè)都把精力放在測(cè)試上,因?yàn)槿斯こ杀久磕甓荚谠黾樱渌姆庋b項(xiàng)目已經(jīng)被很多大企業(yè)占據(jù)。對(duì)于一般的測(cè)試企業(yè)來(lái)說(shuō),芯片測(cè)試是容易入手的一個(gè)細(xì)節(jié)。甚至有些企業(yè)為了搶占市場(chǎng),會(huì)做出芯片免測(cè)試的項(xiàng)目。但無(wú)論如何,我們還是要知道,這個(gè)檢測(cè)環(huán)節(jié)也是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)環(huán)節(jié)。如果這個(gè)環(huán)節(jié)不通過(guò),那么前期的任何成本預(yù)算都將白費(fèi)。
2芯片測(cè)試主要包括三種類型,每種類型的測(cè)試都是必不可少的。
主要包括功能測(cè)試、產(chǎn)品性能測(cè)試、產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性測(cè)試,如果測(cè)試的各個(gè)方面都能完全實(shí)現(xiàn)的話。那么整個(gè)參數(shù)和指標(biāo)自然會(huì)達(dá)到一定的效果。其實(shí),明顯的事實(shí)是,比如懷孕的媽媽,只有通過(guò)10月份懷孕的經(jīng)歷,才會(huì)見(jiàn)到自己的寶寶。芯片測(cè)試也是如此。只有在完成參數(shù)、指標(biāo)、療效等必要步驟后,才能認(rèn)為試驗(yàn)成功,才能看到結(jié)果。
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