一、完成對(duì)芯片的鑒別

      很多人們都不理解的是，為什么要進(jìn)行晶圓測(cè)試，實(shí)際上，在晶圓被送到封裝工廠的時(shí)候，還是需要先去進(jìn)行鑒別的，這樣就可以鑒別出合格的芯片。除此之外，還能完成對(duì)電路的一些參數(shù)進(jìn)行一個(gè)評(píng)估，這樣就可以直接完成對(duì)參數(shù)分布狀態(tài)的檢測(cè)，從而能保持一個(gè)合格的工藝水平，尤其是還能直接成為了生產(chǎn)人員水平的一個(gè)反饋。

二、統(tǒng)計(jì)芯片的成品率

      當(dāng)前的晶圓測(cè)試，也是可以直接用來(lái)統(tǒng)計(jì)芯片的一個(gè)成品率，隨著目前芯片的面積增大，加上密度上的提高，也是能使得測(cè)試費(fèi)用開始增加，這樣就可以使得芯片需要更長(zhǎng)的時(shí)間來(lái)進(jìn)行測(cè)試，所以說(shuō)，通過(guò)這樣的測(cè)試，也是可以從中選擇到合適的芯片，使得芯片能得到具體的應(yīng)用。

      為什么要去進(jìn)行晶圓測(cè)試呢，主要還是因?yàn)檫@樣的測(cè)試，是可以帶來(lái)一定好處的，尤其是可以發(fā)揮一定的作用，所以說(shuō)，在電子產(chǎn)品行業(yè)中，這一測(cè)試是不可少的，加上因?yàn)檫@一測(cè)試工作，本身還是存在一定的規(guī)范性，所以需要通過(guò)專業(yè)人員做好操作。