目前，中國(guó)許多 地區(qū)CP測(cè)試最常見的專用工具是還氧針，該針實(shí)際上由還氧環(huán)氧樹脂制成，針管非常多，針管與針管之間的間隔非常小，密封性和一致性非常大，信號(hào)測(cè)試不完整。CP測(cè)試一般不容易規(guī)定高速測(cè)試。另外，在電氣設(shè)備的特性上，這樣的檢查也有一定的誤差的可能性很高，探針和PAD之間的接觸會(huì)造成一定的危害。實(shí)際操作人員在開展工作時(shí)，必須注意避免 電源。如果有大接觸的電阻，必須考慮其他大中型芯片測(cè)試方法。

    CP測(cè)試要充分考慮marginalfail，尋找最佳計(jì)劃方案。集成ic的功能損失也是必須考慮的因素，芯片測(cè)試與主板芯片相比，只有一般的開關(guān)電源功能損失，由于其探針的限制，在加工過程中發(fā)生異常的可能性很高。CP測(cè)試會(huì)導(dǎo)致 一些芯片測(cè)試的不穩(wěn)定因素，也就是說，每個(gè)人都在談?wù)揳rginalfail。這種批量生產(chǎn)檢測(cè)效率低，即使在CP全過程中有一定的解決方法，也必須尋找最佳方法。