80年代關(guān)于wafertest測試的突破性發(fā)展
所屬類別:2020-08-10 閱讀:1664次
在八十年代初期,我們國家的很多公司就已經(jīng)提出了射頻晶圓測試方案。后期對于探針測試的研究又有了新的發(fā)展,尤其是wafertest測試的出現(xiàn),讓探針測試開始了晶圓片測試的旅程。那么這個過程中,到底發(fā)生了哪些改變呢?從80年代開始,國外對于這項(xiàng)技術(shù)的推動有哪些變化歷程呢?
從80年代開始,關(guān)于wafertest測試就在短時間發(fā)生了很大的變化,直接擴(kuò)展到了28GHZ,并且后期在短短的一年時間之內(nèi),這個擴(kuò)展就已經(jīng)到達(dá)了50GHZ。這是因?yàn)楹笃诘膯纹⒉稍絹碓酱,探針的波段?1年開始出現(xiàn)變化,到93年的時候就已經(jīng)出現(xiàn)了直接的質(zhì)的飛躍。在1990年,美國的相關(guān)公司提出了可替換的探針技術(shù)。這個技術(shù)直接讓探針的主題移動都改變了,陶瓷頂尖技術(shù)更多。WPH探針針對于之前的技術(shù)進(jìn)行了改造,用最小的壓力實(shí)現(xiàn)最大的波動,甚至已經(jīng)達(dá)到了最小的力量波動。也正是因?yàn)檫@個技術(shù)的改造,后期才有了“死亡之聲”的出現(xiàn)。陶瓷探針破裂額聲音讓很多工程師都感受到了絕望,因?yàn)樵诋?dāng)時,其實(shí)探針的研究還是非常昂貴的,付出的金錢成本和時間成本都很大。這種情況下,我們要保證陶瓷探針的技術(shù)突破,就必須要在市場上慢慢研究?傊鋵(shí)1988年是一個里程碑的時代,那個年代有了很多專利的出現(xiàn),機(jī)械方面的改善很多。
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