問題一，經(jīng)過了晶圓測(cè)試的芯片是不是好芯片？其實(shí)這個(gè)問題要理解起來也是比較容易的。比如說我們經(jīng)常提到的高通芯片，這個(gè)芯片按照測(cè)試的范圍從1到10，如果數(shù)值在這個(gè)范圍之內(nèi)，就證明芯片是好的，否則就是不合格的。但是也會(huì)有比較特別的情況，芯片測(cè)試的范圍數(shù)值達(dá)到了12，那么這個(gè)芯片是不是注定就要被拋棄和浪費(fèi)呢？答案自然是否定的，雖然數(shù)值超過了一定的范圍，但是企業(yè)家為了實(shí)現(xiàn)利潤(rùn)的再造，肯定也會(huì)把這個(gè)芯片出售給其他的廠商。尤其是很多手機(jī)廠商，在宣傳自己的芯片的時(shí)候，或許都會(huì)有一些錯(cuò)誤的宣傳方式，大家要注意分辨其中的真假。

    問題二：芯片測(cè)試中的步驟是否可以省略？為了節(jié)省成本，測(cè)試項(xiàng)被減少了，那么測(cè)試的效果怎么樣呢？一般來說，我們要求晶圓測(cè)試是絕對(duì)不可以省的步驟。當(dāng)然根據(jù)測(cè)試的時(shí)間，可能最終的收費(fèi)會(huì)有不同。我們可以完成晶圓測(cè)試之后，就直接做簡(jiǎn)單的封裝測(cè)試之后就可以直接判定這個(gè)芯片是否合格了。