4568寸片測試的實際要求有哪些
所屬類別：2020-03-31 閱讀：1566次
4568寸片測試復(fù)蓋率是如何計算的，必須區(qū)分測試和驗證之間的差異，驗證是驗證設(shè)計的電路是否符合要求的過程，測試是檢查特定芯片是否有個別缺陷的過程，驗證過程的復(fù)蓋范圍統(tǒng)計信息對于RTL代碼，通常對于為芯片要求抽象的功能復(fù)蓋范圍，包括代碼復(fù)蓋范圍、分支復(fù)蓋范圍和狀態(tài)機復(fù)蓋范圍，coverage當(dāng)然越高越好。
因此事先發(fā)現(xiàn)缺陷的可能性就越高，芯片生產(chǎn)的bug也就越少，驗證案例優(yōu)化的一個方向，是通過最小使用案例和時間實現(xiàn)最大復(fù)蓋范圍，如果有未經(jīng)4568寸片測試驗證的芯片故障，則隨后制造的每個芯片也會出現(xiàn)相同的問題，測試過程的復(fù)蓋范圍是通過添加到設(shè)計中的，復(fù)蓋范圍在后端階段有統(tǒng)計特定的工具，掃描的功能是驗證芯片的寄存器和組合邏輯是否正確，BIST用于確定內(nèi)存塊是否有壞處。
因此，掃描和BIST復(fù)蓋范圍的含義是，芯片上的寄存器數(shù)量以及邏輯網(wǎng)關(guān)連接到SCAN鏈的內(nèi)存百分比都可以測試，芯片制造時，機器將芯片配置為設(shè)計良好的4568寸片測試模式，掃描寄存器邏輯關(guān)口和內(nèi)存，過濾掉功能不正常的芯片，然后丟棄，芯片的DFT蓋不完整時，個別壞芯片被認為對客戶有好處，可能會影響客戶，因此測試復(fù)蓋范圍必須盡可能廣，芯片功能常用的測試手段或幾種方法。
軟件實現(xiàn)根據(jù)核心輸入激勵，以及輸出響應(yīng)的數(shù)據(jù)比較要求，代碼是根據(jù)核心計時要求完美設(shè)計的，根據(jù)對于可編程設(shè)備構(gòu)建測試平臺的設(shè)計理念，功能4568寸片測試平臺由以下內(nèi)容組成輸入激勵的生成，以及輸出響應(yīng)使用可編程邏輯設(shè)備進行處理，用ROM存儲DSP內(nèi)核程序、控制寄存器參數(shù)、脈壓系數(shù)和濾波系數(shù)；
使用SRAM作為外部緩存，對于硬件實現(xiàn)功能測試平臺實現(xiàn)方框圖，最后設(shè)計執(zhí)行核心功能測試的系統(tǒng)平臺，擴展數(shù)據(jù)可編程邏輯單元分類，固定邏輯單元的回路是永久性的，執(zhí)行一個或一系列功能，制造完成后不能更改。
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