在很多普通人眼里，芯片測(cè)試只是一個(gè)簡(jiǎn)單的步驟。其實(shí)殊不知，芯片測(cè)試需要涉及到的因素特別多，并不是簡(jiǎn)單的挑選測(cè)試就可以了，任何的測(cè)試都是需要嚴(yán)格的步驟的。尤其是諸如芯片測(cè)試這樣的高技術(shù)含量的事情，其實(shí)對(duì)于每一個(gè)細(xì)節(jié)都是比較嚴(yán)格的，從圓片測(cè)試，4568寸片測(cè)試再到其他的測(cè)試細(xì)節(jié)，每一個(gè)細(xì)節(jié)都需要全程的監(jiān)督與跟蹤。下面我們就具體的看一下關(guān)于4568寸片測(cè)試的細(xì)節(jié)控制。

      其實(shí)從一款芯片設(shè)計(jì)之初，開發(fā)人員就應(yīng)該想到后期的測(cè)試問題了，要減少芯片的出錯(cuò)問題，減少外來電源對(duì)芯片的影響和測(cè)試。一切的測(cè)試的向量都應(yīng)該在可控制的范圍內(nèi)，諸如4568寸片測(cè)試就是其中的一個(gè)向量測(cè)試因素。只有等芯片的所有的測(cè)試都完全的合格之后，才可以進(jìn)入到下一個(gè)階段，也就是ATE測(cè)試的同步，這其中還有晶圓的問題，芯片的測(cè)試周期需要縮短，不能浪費(fèi)太長(zhǎng)的時(shí)間，節(jié)約時(shí)間成本也是一個(gè)需要控制的因素。

      只有經(jīng)過了4568寸片測(cè)試，經(jīng)過了各項(xiàng)不同的測(cè)試之后，所有的芯片才可以正式進(jìn)入到量產(chǎn)的階段，這個(gè)時(shí)候我們需要做的就是監(jiān)督的問題，監(jiān)督整個(gè)的合格率，客戶的述求和PPM低，這些都是需要持續(xù)優(yōu)化的過程。4568寸片測(cè)試并不是芯片測(cè)試的最后一個(gè)環(huán)節(jié)，當(dāng)然也不是唯一的環(huán)節(jié)。

      總之，芯片測(cè)試不只是涉及到一個(gè)成本預(yù)算的問題，其實(shí)還涉及到效率問題，最終的成本平衡的控制問題。這都需要相關(guān)人員好好操作。